Euromex bScope BS.4053-PLMRi-BD materialmikroskop trinokulärt ljusfält/mörkfält för stora prov 50–500×

Euromex bScope BS.4053-PLMRi-BD är ett trinokulärt materialmikroskop för analys av stora prov inom metallografi och materialvetenskap. Modellen är avsedd för reflekterat ljus och erbjuder både ljusfält och mörkfält i samma system.

Mikroskopet är utrustat med plan PLMi oändlighetskorrigerade objektiv för ljusfält och mörkfält och levereras med 5×, 10×, 20× och S50×. Tillsammans med WF 10×/22 mm okular ger detta en standardförstoring från 50× till 500×. Synfältet är cirka 4,4 mm vid 5×, 2,2 mm vid 10×, 1,1 mm vid 20× och 0,44 mm vid 50×.

Det trinokulära Siedentopf-huvudet är 30° lutat och har en fototub på 23,2 mm med ljusväxlare för visuell observation eller kameradokumentation. Konstruktionen ger en upprätt bild. Det interpupillära avståndet kan justeras mellan 48 och 76 mm och vänster tub har dioptrijustering på ±5 dioptrier.

Mikroskopet är utrustat med en omvänd fyrpositionsrevolver på kullager samt ett mekaniskt XY-objektbord med glasinsats. Objektbordet har en arbetsyta på 185 × 140 mm och en rörelse på 35 × 30 mm. Den plana basen på 300 × 250 mm är anpassad för arbete med större prov.

För reflekterat ljus används 5 W NeoLED Köhlerbelysning med extern strömförsörjning. Systemet är utrustat med polarisator och analysator samt inbyggd kondensor med irisbländare och fältbländare. En integrerad roterande filterhållare med grönt, blått, gult och vitt filter ingår.

Mörkfältsfunktionen gör det möjligt att framhäva ytdefekter, partiklar och strukturer som inte framträder lika tydligt i traditionellt ljusfält.

Optiken är antireflexbehandlad och behandlad mot svampangrepp för hög ljustransmission och lång livslängd.

Typiska användningsområden
• Metallografi och materialanalys
• Svetsfogar och kristallstrukturer
• Ytdefekter, partiklar och brottytor
• Industriell kvalitetskontroll

Detta är en modell för användare som arbetar med större prov och behöver ett trinokulärt materialmikroskop med både ljusfält och mörkfält i reflekterat ljus.